Este documento proporciona directrices para la caracterización de los nanotubos de carbono de pared simple (SWCNTs) utilizando la espectroscopia de fotoluminiscencia (PL) del infrarrojo cercano (NIR). Proporciona un método de medición para la determinación de los índices quirales de los SWCNT semiconductores en una muestra y sus intensidades PL integradas relativas. El método puede ampliarse para estimar las concentraciones de masa relativas de los SWCNT semiconductores en una muestra a partir de sus intensidades de PL integradas medidas y del conocimiento de sus secciones transversales de PL.