1.1 El objetivo de este documento es proporcionar orientación sobre la aplicación cuantitativa de la microscopía de fuerza atómica (AFM) para determinar el tamaño de las nanopartículas depositadas en seco sobre sustratos planos mediante la medición de la altura (desplazamiento z). A diferencia de la microscopía electrónica, que proporciona una proyección bidimensional o una imagen bidimensional de una muestra, la AFM proporciona un perfil de superficie tridimensional. Mientras que las dimensiones laterales están influenciadas por la forma de la sonda, las mediciones de desplazamiento pueden proporcionar la altura de las nanopartículas con un alto grado de exactitud y precisión. Si las partículas son esféricas, la medición de la altura corresponde al diámetro de la partícula. En esta guía se describen los procedimientos para dispersar las nanopartículas de oro en varias superficies de forma que sean adecuadas para la obtención de imágenes y la medición de la altura mediante el AFM en modo de contacto intermitente. Se discuten los procedimientos genéricos de calibración y el funcionamiento del AFM para realizar dichas mediciones. Por último, se abordan los procedimientos de análisis y reporte de datos. Las nanopartículas utilizadas para ejemplificar estos procedimientos son materiales de referencia del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) que contienen nanopartículas de oro estabilizadas con citrato de oro con carga negativa en una disolución acuosa. 1.2 Los valores indicados en unidades del SI deben considerarse como estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si es que hay alguna, asociada a su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer las prácticas de seguridad y salud apropiadas y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.